fib 機台

黑社會殺人

12月 9, 2011

張易旋

kuso

聚焦離子束與電子束顯微系統 - NFC奈米中心黑社會殺人中文名稱 聚焦離子束與電子束顯微系統 英文名稱 Dual beam (focused ion beam & electron beam) System (FIB/SEM) 儀器廠牌型號 FEI Nova 200 購置年限 2005/ 6/30 放置地點 工六館 213室 (TEL：55368) 機台狀況 功能 1. 穿透式電子顯微鏡試片 (TEM sample ......

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原來小叮噹原籍中國

12月 9, 2011

郭靖萍

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FIB (Focused Ion Beam)介紹-基本原理原來小叮噹原籍中國FIB可用於觀看材料的截面結構與材質,受限於FIB解析度較低與會對目標物濺擊(破壞表面),若需較大倍率可使用SEM觀看,設備上有FIB/SEM(Dual Beam)機台將FIB與SEM整合在一起. 若要做定點的SEM/TEM樣品製備使用研磨的方式有一定的技術性與風險性,若使用 ......

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英國餐廳的吸煙區

12月 9, 2011

葉紫蕊

kuso

FIB-聚焦离子束应用-Perfict IC Analysis Lab英國餐廳的吸煙區展芯晶片分析實驗室 FIB性能參數 型號：FEI DualBeam 820. FIB/SEM（離子束/電子束）雙束機台 大陸地區第一台投入商業服務的Dual-Beam雙束機台 最精准解析度高達7nm 可同時提供FIB聚焦離子束切割修改與SEM電子束影像觀察...

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小紅鞋就緊跟著來...

12月 9, 2011

張千梅

kuso

閎康科技股份有限公司 > FIB線路修補 怎麼了？小紅帽(貓)剛走，小紅鞋就緊跟著來......  於2008年7月底裝機完成，除了原來可邊切邊看之外也適合大面積的快速切割，切割速率可比傳統FIB加速3-5倍，歡迎大家提供試片和我們一起體驗新機台新技術的應用效果。 Helios 650 雙束聚焦式離子顯微鏡...

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羅馬不是一天造成的

12月 9, 2011

黃懷雙

kuso

國立中正大學 貴重儀器中心羅馬不是一天造成的FIB 雙束型聚焦離子束顯微系統 （FIB） 【 Dual Beam-Focused Ion Beam System 】 技術人員：黃柏諺 先 ... 、本機台主要提供各式金屬、半導體試片在高真空下之FIB 切割與觀察之服務。若含少量高分子材料或導電性不佳之材料，必須事先向技術人員說明 ......

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很可愛的喔~

12月 9, 2011

劉秋曼

kuso

:::: 益弘儀器股份有限公司 ::::很可愛的喔~電子顯微鏡產品 穿透式電子顯微鏡 (TEM) HITACHI 超高解析度掃描穿透式電子顯微鏡 HD-2700 HITACHI 冷場發射穿透式電子顯微鏡HF-3300 HITAHCI 穿透式電子顯微鏡HT7700 HITACHI 穿透式電子顯微鏡H-9500 離子束顯微切割儀 (FIB/FIB-SEM)...

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