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散射式掃描近場光學顯微鏡-次十奈 米級光學檢測

1984 年才因SPM 技術的提升(5),而發展出掃描近 場光學顯微鏡。SNOM 技術中的孔洞是指金屬外 包覆極細光纖的尾端開口,其孔徑小於入射光波 長。將光纖出口靠近樣品表面(5-50 nm) 時,利 用透過光纖孔徑照射或收集漸逝波(evanescent ......

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