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解釋頁 - 基金大觀園

在半導體製程上,主要可分成IC設計、晶圓製程(Wafer Fabrication,簡稱Wafer Fab)、晶圓測試(Wafer Probe),及晶圓封裝(Packaging)。 晶圓測試是對晶片上的每個晶粒進行針測,在檢測頭裝上以金線製成細如毛髮之探針(probe),與晶粒上的接點(pad ......

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