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宜特科技 | 掃描式電子顯微鏡 (SEM)

EDS可提供樣品表面之微區定性或半定量之成份元素分析,與特定區域之Point、Line Scan、Mapping分析;其中SDD detector更能在低電壓下,提升Mapping的空間解析度。...

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