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FIB-聚焦离子束应用-Perfict IC Analysis Lab

展芯晶片分析實驗室 FIB性能參數 型號:FEI DualBeam 820. FIB/SEM(離子束/電子束)雙束機台 大陸地區第一台投入商業服務的Dual-Beam雙束機台 最精准解析度高達7nm 可同時提供FIB聚焦離子束切割修改與SEM電子束影像觀察...

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