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材料世界網:奈米科技檢測分析的新利器-雙粒子束聚焦式離子束(DB-FIB)技術的應用與發展

因DB-FIB機台之E-beam功能具有如一般場發射掃描式電子顯微鏡之解析度,因此可解析如單壁CNT之奈米線。如圖一所示為檢測單壁之CNT奈米線至3nm ......

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