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SEM(掃描式電子顯微鏡) - 國立中山大學研究發展處 Office of Research and Development National Sun Yat-sen Un

儀器規格: 掃描式電子顯微鏡包含:SEM、EDX system、NPGS E-beam Lithography System 服務項目: (1)SEM:樣品結構觀察 (2)EDX:樣品表面元素成分定性定量分析 (3)E-beam writer:以電子束對樣品作結構寫入 收費辦法:...

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