Electron Microscope Techniques for Surface characterization
13 SEM 能為我們提供那些訊息 影像或分析儀 訊號 偵測器 用途 SEI (Secondary Electron Image) 二次電子 E-T 表面 形貌 BEI (Backscattered Electron Image) 背向散射電子 Solid state 原子序 對比 EDS (Energy Dispersive Spectrum) X-ray 訊號 Si-Li or...