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XRD(X-射線繞射分析) - 可靠度測試、材料分析、失效分析、材料表面分析|EAG分析集團

偵測訊號:繞射X-射線 偵測元素: 所有元素,假設他們存在於結晶基質中 偵測限制條件: 多相定量分析:~1% 外部標準定量分析: ~0.1% 特殊定量分析(石英和多形體): ~0.02% 相位鑒別的最小膜厚: ~20Å 深度解析度: 根據材料屬性和X-射線入射角度而定 ......

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