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閎康科技股份有限公司 > 掃描式電子顯微鏡(SEM)

對所有類型樣品提供表面及橫截面微細結構觀察及分析; 針對多層結構樣品提供精準的膜厚量測及標示; 藉由EDS的X光譜線分析對材料做定性及半定量分析或特定區域的點,線,面的成份分佈分析; 藉由低能量的電子束掃描做被動式影像對比(Passive Voltage ......

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